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全新升级的AT4532温度测试仪是ARM微处理器控制的多路温度记录仪,采样多路并行测试,同时对32路温度进行采集、报警、和通讯传输。兼容多种温度传感器,响应快,数据稳定,同时具有断偶检测功能。采样*的测试原理,使温度测试分辨率到0.1度。同样AT4532具有广泛的适应性,支持K/N/E/J/T/R/S/B型热电偶。测试范围从-200℃~1300℃。
AT4508安柏温度测试仪是ARM微处理器控制的多路温度记录仪,采样多路并行测试,同时对8路温度进行采集、报警、和通讯传输。兼容多种温度传感器,响应快,数据稳定,同时具有断偶检测功能。采样*的测试原理,使温度测试分辨率到0.1度。同样AT4508具有广泛的适应性,支持K/N/E/J/T/R/S/B型热电偶。测试范围从-200℃~1300℃
全新升级的安柏温度测试仪,采样多路并行测试,同时对16路温度进行采集、报警、和通讯传输。兼容多种温度传感器,响应快,数据稳定,同时具有断偶检测功能。采样*的测试原理,使温度测试分辨率到0.1度。同样AT4516具有广泛的适应性,支持K/N/E/J/T/R/S/B型热电偶。测试范围从-200℃~1300℃。
AT4510安柏多路温度测试仪采用无线通讯 ,采集模块内置大容量锂电池,应对多处采集温度提供良好的解决方案,仪器内置高性能8051CPU内核控制,可同时对多路温度数据进行采集,并具有上超下超报警和通讯传输功能,可扩展至160路温度数据,兼容多种温度传感器,响应速度快,数据稳定,同时具备断偶检测功能。
AT720温度校验仪采用高性能32位ARM微处理器控制,具有直流电压,电阻,热电偶,热电阻输出功能,响应速度快,数据稳定。仪器使用真彩TFT-LCD,全中文操作界面,键盘和触摸屏操作,高精度测量和简单易用带给用户全新的测试体验。
AT4710多路温度测试仪精简于数据记录仪AT4610, 采用高性能 ARM 微处理器及 FPGA 控制的实时高速数据采集的微型台式仪器。仪器采用7英寸高亮度真彩液晶屏,全触控配合辅助功能键操作,使用安柏第7版ATOS操作系统,更易用更智能。 全中文的操作界面和操作说明,实时显示测量数据和曲线图,给您全新的仪器体验。
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